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20080408 : Rencontre "Interférences+" - Laser, microscopie et capteurs optiques Cliquez ici pour imprimer 20080408 : Rencontre

logo interferences+ - 200x76 - 2.9 ko Rencontre Recherche - Entreprise

Laser, microscopie et capteurs optiques


Mardi 8 avril 2008 de 14h à 18h au Palais de la Musique et des Congrès de Strasbourg (France).

Cette demi-journée de rencontre entre chercheurs et industriels abordera les 3 thématiques "Laser", "Microscopie" et "Capteurs Optiques" en consacrant à chacune 1 heure :
-  15 minutes d’ouverture du débat par un expert du domaine
-  2 x 15 minutes d’intervention d’un industriel utilisant la technologie concernée
-  15 minutes de questions-réponses

PROGRAMME

[ Dernière mise à jour : 12 Mars 2008 ]

-  13h45 Accueil

  • 14h Introduction

  • 14h10 Laser
    • Introduction (15 mn) :
      Joël FONTAINE (Laboratoire des Systèmes Photoniques)
    • Témoignage dun CRITT (15 mn) : Jean-Paul GAUFILLET (IREPA LASER), "Procédés laser et traitements des matériaux"
    • Témoignage d’industriel (15 mn) : Guillaume HUSS, Leukos : "Les sources laser blanches compactes et leurs applications".
    • Discussion et questions (15 mn)

  • 15h10 Microscopie
    • Introduction (15 mn) :
      Olivier HAEBERLE (Laboratoire MIPS - Université de Haute Alsace)
    • Témoignage d’industriel (15 mn) : Yves EMERY, Lyncee Tec, "La Microscopie Holographique Digitale : des mesures 3D en temps réel, une précision interferentielle dans un environnement industriel"
    • Témoignage d’industriel (15 mn) : Vincent LAUER, Lauer Technologies, "Le microscope Tomographique 3D pour le diagnostic histologique et la recherche pharmacologique"
    • Discussion et questions (15 mn)

  • 16h10 Capteurs optiques
    • Introduction (15 mn) :
      Patrick MEYRUEIS (Laboratoire des Systèmes Photoniques)
    • Témoignage d’industriel (15 mn) : Gilbert DUDKIEWICZ, TELMAT : "Capteur optique rapide de tout ou partie du corps humain ou objet quelconque"
    • Témoignage d’industriel (15 mn) : Jérôme BAUJON et Serge BOEHM, Pertech : "Eye Tracking pour l’analyse du comportement"
    • Discussion et questions (15 mn)

Rencontre organisée par Rhenaphotonics Alsace, les CCI alsaciennes, Alsace International et le CEEI dans le cadre de Photonics Europe.

Comité d’organisation :
Véronique Parasote, Rhenaphotonics Alsace
Patricia Hatesuer, Alsace International
Didier Wehrli, CEEI Alsace

Renseignements et inscription : vparasote@rhenaphotonics.fr

Fichiers associés :
Fichier Word :
Interferences+ - 08 avril 2008 - inscription
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Dernière mise à jour le 01/09/2010 © Rhenaphotonics Alsace 2005 - 2010 - Informations légales Contact Rhenaphotonics Alsace Réalisation ALPHEA NET